[发明专利]折射能力测定装置无效

专利信息
申请号: 01802341.X 申请日: 2001-08-13
公开(公告)号: CN1388894A 公开(公告)日: 2003-01-01
发明(设计)人: 福间康文;柳英一 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 孙敬国
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的折射能力测定装置具备为测定空气中的软性隐形眼镜TL的光学特性值而使测量光P射向浸在液体12中的软性隐形眼镜TL的测量光学系统1;接受透过软性隐形眼镜TL的测量光P并输出受光信号的光敏传感器7;输入受光信号并根据受光信号计算光学特性值的运算电路13;在每个采样时间输入运算电路13的光学特性值所对应的光学特性值数据并根据该数据利用统计处理运算残差量而输出残差量信号的残差量运算电路14;将残差量信号延迟采样时间的延迟电路19;比较由延迟电路19延迟后的残差量信号与下一残差量信号并判断它们的残差量之差是否小于许可值的比较电路18,根据比较电路18的判断结果,求出空气中的光学特性值。
搜索关键词: 折射 能力 测定 装置
【主权项】:
1.一种折射能力测定装置,其特征在于,具备:为了测定空气中的软性隐形眼镜的光学特性值而将测量光射向被液体浸湿的软性隐形眼镜的测量光学系统;具有接受透过所述软性隐形眼镜的测量光并且输出受光信号的光敏传感器的受光光学系统;输入所述受光信号并且根据所述受光信号计算光学特性值的运算电路;在每个采样时间输入与所述运算电路的光学特性值相度对应的光学特性值数据并且根据所述光学特性值数据通过统计处理计算残差量并输出残差量信号的残差量运算电路;使所述残差量信号延迟所述采样时间的延迟电路;比较由所述延迟电路延迟后的残差量信号与下一残差量信号并且判断下一残差量与延迟后的残差量之差是否在小于许可值的比较电路,根据所述比较电路的判断结果,求出空气中的光学特性值。
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