[发明专利]薄片的制造方法,控制薄片厚度的设备和程序,以及薄片有效
申请号: | 01803992.8 | 申请日: | 2001-09-17 |
公开(公告)号: | CN1395523A | 公开(公告)日: | 2003-02-05 |
发明(设计)人: | 平田肇;上原正嗣;寺尾次郎;中井康博 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | B29C47/92 | 分类号: | B29C47/92;B29C47/16;G05B13/04;//B29L700 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴立明,张志醒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种薄片厚度的控制方法,薄片通过将材料从带有多个厚度调节装置的模具挤压而制备,按照预定间隔重复进行以下各个步骤(1)在横向测量薄片厚度分布;(2)采用专门的估算函数,并根据表示操纵变量与薄片厚度以及薄片厚度测量值之间关系的工艺模型,估算薄片厚度的预定未来变化,并推导出操纵变量时间序列,使估算函数成为最小值;(3)至少将所获操纵变量时间序列的第一个操纵变量传递给厚度调节装置。 | ||
搜索关键词: | 薄片 制造 方法 控制 厚度 设备 程序 以及 | ||
【主权项】:
1.一种薄片的制造方法,其中原材料通过带有多个厚度调节装置的模具,被挤压、模塑成薄片,所述薄片的厚度由施加于所述厚度调节装置的操纵变量进行控制;其特征在于按照预定间隔重复进行以下各个步骤:一个步骤是在横向测量薄片厚度的分布;另一个步骤是推导出操纵变量的时间序列,在这一时间序列内,用于测定未来薄片厚度变化的估算函数成为最小值,未来薄片厚度的变化是根据所述测量值,并根据表达所述操纵变量与薄片厚度值之间关系的工艺模型而预先计算的;还有一个步骤是至少将所获操纵变量时间序列的第一个操纵变量传递给所述厚度调节装置。
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