[发明专利]分析元件、使用了该元件的测定器及基质的定量方法有效
| 申请号： | 01804836.6 | 申请日： | 2001-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN1401076A | 公开（公告）日： | 2003-03-05 |
| 发明（设计）人： | 谷池优子;池田信;南海史朗 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 胡烨 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析元件，其特点是在测定过程中试样不蒸发，对微量试样也能进行高精度的基质定量分析，而且在测定中和测定后试样不会飞散，卫生方面情况良好。还提供了使用了该分析元件的测定器及基质定量方法。该分析元件具备储存试样的空腔、暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 元件 使用 测定 基质 定量 方法 | ||
【主权项】：
1.分析元件，其特征在于，具备储存试样的空腔、暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。
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