[发明专利]利用硒化反应的衬底键合无效
申请号: | 02103210.6 | 申请日: | 2002-01-30 |
公开(公告)号: | CN1379436A | 公开(公告)日: | 2002-11-13 |
发明(设计)人: | H·李;C·C·杨 | 申请(专利权)人: | 惠普公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;B81C5/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 罗朋,王忠忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种硒化反应,用来将一个或多个有源衬底键合到基底衬底。借助于在有源衬底A的键合表面12上形成由硒和铟组成的第一多层叠层15以及在基底衬底B的安装表面14上形成由硒和铟组成的第二多层叠层17,来制造键合衬底。使第一和第二多层叠层(15,17)在基本上无压力的情况下彼此接触。然后,借助于在惰性气氛中对其进行退火,以形成将衬底(A,B)彼此粘附键合的铟硒化合物键合层,从而使有源衬底A与基底衬底B彼此键合。此退火能够在低于现有技术晶片键合工艺的温度下进行,且第一和第二多层叠层(15,17)能够在包括室温的比较低的宽温度范围内被淀积。此外,可以将碲加入到第一和第二多层叠层(15,17)中的一个或二者的硒中,以便降低退火温度并形成将衬底(A,B)彼此粘附键合的铟-硒-碲化合物键合层19。元素化合物或非晶化合物能够被用于第一和第二多层叠层(15,17)的材料,以便分别形成多晶或非晶化合物键合层19。化合物键合层19的一个优点是能够用选择性湿法腐蚀材料溶解,致使能够非破坏性地彼此分离有源衬底A和基底衬底B。 | ||
搜索关键词: | 利用 反应 衬底 | ||
【主权项】:
1.一种制造键合衬底的方法,此键合衬底包括至少一个有源衬底A和一个用硒化反应在其上键合有源衬底A的基底衬底B,此方法包含:借助于在有源衬底A的键合表面12上淀积由第一材料11和第二材料13组成的交替层而形成第一多层叠层15,第一材料11包括硒,而第二材料13包括选自铟、镓、锑、铝的材料;借助于在基底衬底B的安装表面14上淀积由第一材料11和第二材料13组成的交替层而形成第二多层叠层17;使第一和第二多层叠层(15,17)彼此接触;以及借助于在惰性气氛中对衬底(A,B)进行退火,以形成将衬底(A,B)彼此粘附键合的化合物键合层19,从而将有源衬底和基底衬底(A,B)彼此键合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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