[发明专利]半导体存储器装置无效
| 申请号： | 02103564.4 | 申请日： | 2002-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN1381847A | 公开（公告）日： | 2002-11-27 |
| 发明（设计）人： | 奥田正树 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/401 | 分类号： | G11C11/401;G11C11/406;G11C11/4063 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 冯赓宣 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种能同时读取和刷新数据并且检查数据恢复功能是否正常工作的半导体存储器装置。数据输入电路接收从外部电路输入的数据。奇偶校验生成电路从数据输入电路的输入数据中产生奇偶校验数据。存储器存储数据输入电路的输入数据并存储由奇偶校验生成电路产生的奇偶校验数据。刷新电路刷新该存储器。读取电路从存储器中读取数据。当读取电路读取数据时,恢复电路通过从其它正常读出的数据和相应的奇偶校验数据恢复被刷新电路刷新的数据。数据输出电路输出由读取电路读取的数据和输出由恢复电路恢复的数据。奇偶校验输出电路直接读取和输出存储在存储器中的奇偶校验数据。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 装置 | ||
【主权项】：
1、一种能同时读取数据和刷新数据的半导体存储器装置，包括：用于接收从外部电路输入的数据的数据输入电路；用于从所述数据输入电路输入的数据中产生奇偶校验数据的奇偶校验生成电路；用于存储从所述数据输入电路输入的数据和从所述奇偶校验生成电路产生的奇偶校验数据的存储器；用于刷新所述存储器的刷新电路；用于从所述存储器读取数据的读取电路；当所述读取电路读取数据时，通过从其它正常读出的数据和相应的奇偶校验数据恢复被所述刷新电路刷新的数据的恢复电路；用于输出由所述读取电路读取的数据和输出由所述恢复电路恢复的数据的数据输出电路；和用于直接读取和输出存储在所述存储器中的奇偶校验数据的奇偶校验输出电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社，未经富士通株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02103564.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：重力进给流体分配阀
- 下一篇：硬质粒状水碎渣制造方法及其装置
