[发明专利]半导体器件无效
申请号: | 02108203.0 | 申请日: | 2002-03-22 |
公开(公告)号: | CN1378285A | 公开(公告)日: | 2002-11-06 |
发明(设计)人: | 广川正彦;松浦研;高木雅和 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | H01L25/07 | 分类号: | H01L25/07;H01L29/786;H02M7/217 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提出一种能够以低阻抗将作为主开关器件的FET(场效应晶体管)的栅源电容短路的半导体器件。上述半导体器件包括第一FET、第二FET以及一个封壳。第一FET和第二FET都装在封壳内。第一FET构成主开关器件。第二FET的漏极和源极连接到第一FET的栅极和源极。封壳的外表面具有第一和第二FET的外部端子。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,它包括:包括主开关的第一场效应晶体管;第二场效应晶体管,其漏极和源极连接到所述第一场效应晶体管的栅极和源极;以及其外表面带有外部端子的封壳,所述第一场效应晶体管和所述第二场效应晶体管设置在该封壳里面。其中,所述外部端子与所述第一和第二场效应晶体管的漏极、源极或栅极连接。
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