[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 02108203.0 申请日: 2002-03-22
公开(公告)号: CN1378285A 公开(公告)日: 2002-11-06
发明(设计)人: 广川正彦;松浦研;高木雅和 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L29/786;H02M7/217
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提出一种能够以低阻抗将作为主开关器件的FET(场效应晶体管)的栅源电容短路的半导体器件。上述半导体器件包括第一FET、第二FET以及一个封壳。第一FET和第二FET都装在封壳内。第一FET构成主开关器件。第二FET的漏极和源极连接到第一FET的栅极和源极。封壳的外表面具有第一和第二FET的外部端子。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,它包括:包括主开关的第一场效应晶体管;第二场效应晶体管,其漏极和源极连接到所述第一场效应晶体管的栅极和源极;以及其外表面带有外部端子的封壳,所述第一场效应晶体管和所述第二场效应晶体管设置在该封壳里面。其中,所述外部端子与所述第一和第二场效应晶体管的漏极、源极或栅极连接。
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