[发明专利]测量机的光轴自动调节有效
| 申请号： | 02108710.5 | 申请日： | 2002-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN1391085A | 公开（公告）日： | 2003-01-15 |
| 发明（设计）人： | 上野政幸;高山抱梦 | 申请（专利权）人： | 旭精密株式会社 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量机，它对一个光轴进行自动调节，包括用于观察一个对象的一个观察光学系统；一个光传送光学系统，它把从一个光源发出的一个光束传送至所述对象；一个偏离探测器；以及，一个光轴调节器。该偏离探测器，它探测与所述观察光学系统对应的一个第一光轴和与所述光传送光学系统对应的一个第二光轴之间的一个偏离。该光轴调节器，它对所述第一光轴和所述第二光轴中的至少一个进行自动调节以对所述偏离进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 光轴 自动 调节 | ||
【主权项】：
1.一种对光轴进行自动调节的测量机，包括：一个观察光学系统，用于观察一个对象；一个光传送光学系统，它把从一个光源发出的一个用于测量的光束传送至所述对象；一个偏离探测器，它探测与所述观察光学系统对应的一个第一光轴和与所述光传送光学系统对应的一个第二光轴之间的一个偏离；以及一个光轴调节器，它对所述第一光轴和所述第二光轴中的至少一个进行自动调节以对所述偏离进行校正。
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