[发明专利]多点测厚计有效

专利信息
申请号: 02119825.X 申请日: 2002-02-28
公开(公告)号: CN1378067A 公开(公告)日: 2002-11-06
发明(设计)人: 贺川武 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能对被测定物在宽度方向上进行电离箱的放射线灵敏度的差值小且精度高的板厚测定的多点测厚计。其中,配置在检测部(2)内的电离箱(5)相对于被测定物(4)的流动方向,沿顺时针方向或反时针方向转动。由此,可以使在现有技术的电离箱的配置中存在的对于放射线灵敏度低的区域即不敏感带消失,从而可以连续且高精度地进行被测定物(4)的宽度方向上的测定。
搜索关键词: 多点 测厚计
【主权项】:
1、一种多点测厚计,其特征在于:具有放射线源、电离箱,并配置有获得与从上述放射线源放射后透过被测定物入射的放射线的大小相关的输出信号的检测单元、和根据该检测单元的输出信号计算上述被测定物厚度的计算单元,上述电离箱相对于上述被测定物的流动方向可以任意角度旋转地配置起来。
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