[发明专利]维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统有效
| 申请号： | 02119842.X | 申请日： | 2002-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN1458606A | 公开（公告）日： | 2003-11-26 |
| 发明（设计）人： | 郭仲仁;薛国强;简祯富;吴吉政 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/60 | 分类号： | G06F17/60 |
| 代理公司： | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 台湾省新竹科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统，其中，半导体元件电性测试系统包括一测试机台、一制造执行系统、一成本系统、一测试数据系统与一维修决策支持系统。其测试方法是由测试机台所得的目前各测试管生产情况的数据，利用维修决策方法中的决策树来计算目标函数与允许维修时间函数，以求得最大的测试利益。 | ||
| 搜索关键词： | 维修 决策 方法 使用 半导体 元件 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种使用维修决策方法的半导体元件电性测试系统，其特征是，该系统包括：一测试机台，具有多个测试管，测试该半导体元件，并于测试过程中记录与该测试机台的该些测试管相关的一机台数据；一数据系统，储存一产品数据；以及一维修决策支持系统，依据该产品数据及该机台数据，计算一生产率与一目标函数而得到一最佳开管数与一最佳开管组合。
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