[发明专利]制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法有效

专利信息
申请号: 02122123.5 申请日: 2002-05-31
公开(公告)号: CN1389911A 公开(公告)日: 2003-01-08
发明(设计)人: 梁埈荣 申请(专利权)人: LG.飞利浦LCD有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/00;G02F1/136
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法包括以下步骤在衬底上形成由单晶硅构成的第一和第二半导体层;在第一和第二半导体层上淀积绝缘材料;在绝缘材料上淀积金属;在金属上形成第一光刻胶图形,其中第一光刻胶图形正好在第一和第二半导体上;通过刻蚀金属,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二栅极,其中第一和第二栅极比第一光刻胶图形窄;采用第一光刻胶图形作为第一掺杂掩模,掺杂n+离子;去掉第一光刻胶图形;采用第一和第二栅极作为第二掺杂掩模,掺杂n-离子;形成覆盖第一栅极和第一半导体层的第二光刻胶图形;用第二光刻胶图形和第二栅极作为第三掺杂掩模,掺杂p+离子;和掺杂p+离子之后去掉第二光刻胶图形。
搜索关键词: 制造 具有 驱动 集成电路 阵列 衬底 方法
【主权项】:
1、一种制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法,包括:在衬底上形成第一和第二半导体层;在第一和第二半导体层上淀积绝缘材料;在绝缘材料上淀积金属;在金属上形成第一光刻胶图形,该第一光刻胶图形正好在第一和第二半导体上;通过刻蚀金属,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二栅极,第一和第二栅极比第一光刻胶图形窄;通过刻蚀绝缘材料,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二绝缘体图形,第一和第二绝缘体图形具有与第一光刻胶图形相等的宽度;采用第一光刻胶图形作为第一掺杂掩模,掺杂n+离子;灰化第一光刻胶图形,由此第一光刻胶图形变成减小的第一光刻胶图形,该减小的第一光刻胶图形具有与第一和第二栅极相同的宽度;用该减小的第一光刻胶图形作为刻蚀掩模,刻蚀第一和第二绝缘体图形;用该减小的第一光刻胶图形作为第二掺杂掩模,掺杂n-离子;在掺杂n-离子之后去掉减小的第一光刻胶图形;形成覆盖第一栅极和第一半导体层的第二光刻胶图形;用第二光刻胶图形和第二栅极作为第三掺杂掩模,掺杂p+离子;和掺杂p+离子之后去掉第二光刻胶图形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LG.飞利浦LCD有限公司,未经LG.飞利浦LCD有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02122123.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top