[发明专利]制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法有效
申请号: | 02122123.5 | 申请日: | 2002-05-31 |
公开(公告)号: | CN1389911A | 公开(公告)日: | 2003-01-08 |
发明(设计)人: | 梁埈荣 | 申请(专利权)人: | LG.飞利浦LCD有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/00;G02F1/136 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法包括以下步骤在衬底上形成由单晶硅构成的第一和第二半导体层;在第一和第二半导体层上淀积绝缘材料;在绝缘材料上淀积金属;在金属上形成第一光刻胶图形,其中第一光刻胶图形正好在第一和第二半导体上;通过刻蚀金属,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二栅极,其中第一和第二栅极比第一光刻胶图形窄;采用第一光刻胶图形作为第一掺杂掩模,掺杂n+离子;去掉第一光刻胶图形;采用第一和第二栅极作为第二掺杂掩模,掺杂n-离子;形成覆盖第一栅极和第一半导体层的第二光刻胶图形;用第二光刻胶图形和第二栅极作为第三掺杂掩模,掺杂p+离子;和掺杂p+离子之后去掉第二光刻胶图形。 | ||
搜索关键词: | 制造 具有 驱动 集成电路 阵列 衬底 方法 | ||
【主权项】:
1、一种制造具有驱动集成电路的阵列衬底的方法,包括:在衬底上形成第一和第二半导体层;在第一和第二半导体层上淀积绝缘材料;在绝缘材料上淀积金属;在金属上形成第一光刻胶图形,该第一光刻胶图形正好在第一和第二半导体上;通过刻蚀金属,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二栅极,第一和第二栅极比第一光刻胶图形窄;通过刻蚀绝缘材料,分别在第一和第二半导体层上形成第一和第二绝缘体图形,第一和第二绝缘体图形具有与第一光刻胶图形相等的宽度;采用第一光刻胶图形作为第一掺杂掩模,掺杂n+离子;灰化第一光刻胶图形,由此第一光刻胶图形变成减小的第一光刻胶图形,该减小的第一光刻胶图形具有与第一和第二栅极相同的宽度;用该减小的第一光刻胶图形作为刻蚀掩模,刻蚀第一和第二绝缘体图形;用该减小的第一光刻胶图形作为第二掺杂掩模,掺杂n-离子;在掺杂n-离子之后去掉减小的第一光刻胶图形;形成覆盖第一栅极和第一半导体层的第二光刻胶图形;用第二光刻胶图形和第二栅极作为第三掺杂掩模,掺杂p+离子;和掺杂p+离子之后去掉第二光刻胶图形。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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