[发明专利]半导体封装制造方法及其封装件无效

专利信息
申请号: 02125624.1 申请日: 2002-07-25
公开(公告)号: CN1471160A 公开(公告)日: 2004-01-28
发明(设计)人: 谢文乐;黄宁;陈慧萍;蒋华文;张衷铭;涂丰昌;黄富裕;张轩睿;胡嘉杰;吕文隆;陈哲祯 申请(专利权)人: 华泰电子股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊;王刚
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种半导体封装制造方法及其封装件,是使用厚的耐热胶带,并在其表面上铺一层铜层,在铜层上涂上感光灵敏的抗物质(光阻剂),之后以光源经设有电路图案的负片曝晒,使光阻剂留在铜层表面上,再进行蚀刻作业以留下具有电路图案的铜线,再将裸芯片以引线接合形式(WireBonding)或倒装片形式(F1ip Chip)与铜线路接合后,以适用的封装方式封装后,撕去耐热胶带而成的封装件。
搜索关键词: 半导体 封装 制造 方法 及其
【主权项】:
1.一种半导体封装制造方法及其封装件,包括以耐热胶带为基垫,并在其上制作电路布线后与芯片作电性接合并封装成型后,移除耐热胶带成为一封装件。
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