[发明专利]交叉点阵列中存储单元的隔离无效
申请号: | 02127076.7 | 申请日: | 2002-07-26 |
公开(公告)号: | CN1400664A | 公开(公告)日: | 2003-03-05 |
发明(设计)人: | F·A·佩尔纳 | 申请(专利权)人: | 惠普公司 |
主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;H01L21/8239 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴立明,王勇 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 存储器阵列(100)包括位于第一(30)和第二(50)导体的交叉点处的存储单元(10)。存储单元(10)是复合结构,它能够存储数据,能将存储单元(10)和潜通路电流隔离开。存储单元(10)包括隧道栅极表面效应晶体管,该晶体管有不均匀栅极氧化物(14)。栅极氧化物(14)被支撑在柱状二极管结构(12)上。存储单元(10)在栅极氧化物(15)的隧道结(17)中存储二进制状态。另外,晶体管(62)的控制栅极(63)断开隧道结(17)和柱(12)的侧壁的连接,阻止了电流流动。控制栅极(63)因而阻止了潜通路电流通过存储单元(10)。存储单元(10)中的隔离特性不需要衬底上的空间,允许高阵列密度。另外,存储单元(10)有低正向压降,改善了存储器阵列(100)的可读性。 | ||
搜索关键词: | 交叉点 阵列 存储 单元 隔离 | ||
【主权项】:
1.一种存储单元(10),包括:P-区(20);包围P-区(20)的N+区(22),该P-区(20)和该N+区(22)形成了一个柱(12);和布置在柱(12)的一端处的栅极氧化物(14),栅极氧化物(14)包括能够存储二进制状态的部分(17)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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