[发明专利]形成贵金属薄膜构图的方法无效

专利信息
申请号: 02127334.0 申请日: 2002-08-02
公开(公告)号: CN1405797A 公开(公告)日: 2003-03-26
发明(设计)人: 夏目洁;内藤宽 申请(专利权)人: 雅马哈株式会社
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;G01K7/18;H01L21/3205
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李晓舒,魏晓刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种形成贵金属薄膜的方法。在该方法中,在一衬底上形成一牺牲膜,并在该牺牲膜上形成一掩蔽层。经过该掩蔽层形成具有预定构图的开口。去除该开口中显露的牺牲膜,以形成比衬底上的开口宽的腔。在整个衬底表面上沉积贵金属薄膜。溶解并去除该牺牲膜以形成贵金属薄膜构图。
搜索关键词: 形成 贵金属 薄膜 构图 方法
【主权项】:
1.一种形成贵金属薄膜的方法,包括步骤:(a)在一衬底上形成一牺牲膜,并在该牺牲膜上叠置具有不同蚀刻特性的掩蔽层;(b)经过所述掩蔽层形成具有预定构图的一开口;(c)蚀刻所述开口中显露的所述牺牲膜,并侧蚀刻所述牺牲膜而越过所述掩蔽层的该开口的边界一预定的量;(d)在所述衬底的整个表面上沉积贵金属薄膜;以及(e)溶解并去除所述的牺牲膜。
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