[发明专利]序列散斑场强度扫描位移测量方法无效
申请号: | 02130912.4 | 申请日: | 2002-09-13 |
公开(公告)号: | CN1401990A | 公开(公告)日: | 2003-03-12 |
发明(设计)人: | 李喜德;陶刚;邓兵;杨懿彰 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种序列散斑场强度扫描位移测量方法,属光电无损检测领域。本方法由下列步骤完成对被测物通过双光束干涉获得单调连续变化的序列散斑图;对所得的序列散斑图在时间域内用相关法划分出不同的强度统计和扫描区间;对划分好区间的序列散斑图进行强度统计平均和扫描获得该区间相位函数的主值;对获得主值相位函数区间内的序列散斑图所对应的余弦强度序列再进行六区域分割并对其强度值逐点比较,获得余弦序列所对应的相位变化周期;将主值相位和相位变化周期迭加,获得由相关划分所确定的区间中的连续位相分布;将获得的所有区间的连续相位值叠加即可完成位移场检测。采用本方法可以在不加外载波和相移系统的条件下,对时变位移场进行定量测量。 | ||
搜索关键词: | 序列 散斑场 强度 扫描 位移 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种序列散斑场强度扫描位移测量方法,其特征是本方法由下列步骤完成:(1)对被测物体首先通过双光束散斑干涉获得单调连续变化的序列散斑图;(2)对所得的序列散斑图在时间域应用相关法划分出不同的强度统计和扫描区间;(3)对划分好区间的序列散斑图进行时间域强度统计平均和强度扫描获得该区间内相位函数的主值;(4)对获得主值相位函数的区间内的序列散斑图所对应的余弦强度序列再进行六个区域分割,即第一采样点、上升区、波峰、下降区、波谷和最后采样点;(5)对所分割的六区域强度值逐点比较,获得余弦序列所对应的相位变化周期;(6)将主值相位和相位变化周期合成,获得由相关划分所确定的该区间中的连续位相分布;(7)重复步骤(3)到步骤(6)的过程,获得所有区间的连续相位分布,并将所有区间对应的连续相位叠加,即可完成位移场检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02130912.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。