[发明专利]双金属氧化物-氮化物-氧化物半导体阵列金属位结构及单个单元操作无效

专利信息
申请号: 02146167.8 申请日: 2002-10-30
公开(公告)号: CN1494086A 公开(公告)日: 2004-05-05
发明(设计)人: 大仓世纪;齐藤智也;大仓智子 申请(专利权)人: 哈娄利公司
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04;H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种双MONOS金属位线阵列的寻址方法,其读取及程序化一双MONOS金属位线阵列,其使用一具有X、Y及Z维的三维程序化方法,字线地址为X地址,控制栅极线地址为X及Z地址的函数、且位线地址为X及Y地址的函数,因为内存阵列的位线及控制栅极线呈直角,所以可清除一单个单元及一相邻的内存,该相邻的内存具有相同已选择位及控制栅极线,其要抑制藉由施加适当电压到未选择字组、控制栅极及位线上的清除。
搜索关键词: 双金属 氧化物 氮化物 半导体 阵列 金属 结构 单个 单元 操作
【主权项】:
1.一种双MONOS金属位线阵列的寻址方法,包括:a)把一低字线地址到一高字线地址标记为字线;b)把一低控制栅极地址到一高控制栅极地址标记为控制栅极线;c)把一低位线地址数目到一高位线地址数目标记为位线,且对于每个该地址数目有一个“偶数”及“奇数”的额外指定;d)选择一组三维地址“X”、“Y”、及“Z”;e)选择该字线地址作为“X”地址;f)选择该控制栅极地址作为“X”及“Z”地址的函数;及g)选择该位地址作为“Y”及“Z”地址的函数,且不管控制栅极地址是“偶数”或“奇数”。
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