[发明专利]横向磊晶形成磊晶层的方法无效

专利信息
申请号: 02148961.0 申请日: 2002-11-14
公开(公告)号: CN1501517A 公开(公告)日: 2004-06-02
发明(设计)人: 寺嶋一高;章烱煜;赖穆人 申请(专利权)人: 威凯科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01S5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘朝华
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种横向磊晶形成磊晶层的方法,包括提供一硅基底;形成一磊晶罩幕层于硅基底表面;图案化磊晶罩幕层,以形成多数视窗区于相邻图案化磊晶罩幕层之间,露出部分硅基底表面;磊晶一磷化硼,先垂直磊晶磷化硼于视窗区内,直到磷化硼的厚度大于图案化磊晶罩慕层的厚度,使横向磊晶磷化硼于图案化磊晶罩幕层上方。磊晶罩幕层不仅可以形成于硅基底表面,用以使磷化硼缓冲层横向磊晶于其上方,磊晶罩幕层亦可以形成于磷化硼缓冲层表面,使一束缚层横向磊晶于其上方,还可以形成于束缚层表面,用以使一活性层横向磊晶于其上方。具有提高发光元件的发光效率和使用寿命,降低发光元件的成本及使磊晶层的结晶完美,以降低差排缺陷密度的功效。
搜索关键词: 横向 晶形 成磊晶层 方法
【主权项】:
1、一种横向磊晶形成磊晶层的方法,其特征是:它包括如下步骤:(1)提供一硅基底;(2)形成一磊晶罩幕层于该硅基底表面;(3)图案化该磊晶罩幕层,以形成多数视窗区于相邻图案化磊晶罩幕层之间,露出部分硅基底表面;(4)磊晶一磷化硼,先垂直磊晶该磷化硼于该视窗区内的硅基底表面,直到该磷化硼的厚度大于该图案化磊晶罩幕层的厚度,使横向磊晶该磷化硼于图案化磊晶罩幕层上方。
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