[发明专利]光投射处理设备和用它制造器件的方法及制成的器件,污染物的清洁设备和清洁方法无效
申请号: | 02151873.4 | 申请日: | 2002-11-15 |
公开(公告)号: | CN1472601A | 公开(公告)日: | 2004-02-04 |
发明(设计)人: | W·范塞克;A·E·杜伊斯特温克;B·M·默藤斯;H·梅林;N·B·科斯特 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;B08B11/00;H01L21/027 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 用波长短于250nm的UV或EUV射线,在选自水,氧化氮和含氧的碳氢化合物的含氧物存在的情况下,在包含光学元件的设备中辐射空间,清洗光投射处理设备中用的光学元件。通常用洗涤气体洗涤空间,洗涤气体除有常用的洗涤气体组分外,还含有少量含氧物。该方法也可以用在抽真空的空间中,给空间引入低压含氧物。该方法的优点在于避免使用诸如臭氧的不稳定的材料。 | ||
搜索关键词: | 投射 处理 设备 制造 器件 方法 制成 污染物 清洁 | ||
【主权项】:
1,一种光投射处理设备,包括:辐射系统,用于提供波长为250nm或以下的电磁射线的投射束;支撑构件,用于支撑构图装置,该构图装置用于对投射束按规定图形构图;衬底台,用于固定衬底;投射系统,用于把已构图的射线束投射到衬底的目标部分上;气体供给源,给所述设备中的空间供给洗涤气体,所述空间内设有光学元件,其中,所述洗涤气体包含选自水,氧化氮和含氧的碳氢化合物的含氧物。
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