[发明专利]具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法及试验装置无效
| 申请号： | 02824261.0 | 申请日： | 2002-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN1599869A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木守 | 申请（专利权）人： | 独立行政法人科学技术振兴机构 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法及试验装置，用简单的板的构成，不需要对应每个I/O规格变更测试系统而迅速地进行超过1GHz的高速I/O的测试。在设置了用传送线路将具有高速输入输出装置(2)的半导体集成电路装置(1)的外部输出端子和外部输入端子连接的环路反馈通道(4)的负载板(3)上安装半导体集成电路装置(1)，利用设置在半导体集成电路装置(1)的内部的测试装置(5)和环路反馈通道(4)，在半导体集成电路装置(1)内部中试验高速输入输出装置(2)的工作。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 高速 输入输出 装置 半导体 集成电路 试验 方法 试验装置 | ||
【主权项】：
1、一种具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法，其特征在于，在设置了用传送线路将具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的外部输出端子和外部输入端子连接的环路反馈通道的负载板上安装所述半导体集成电路装置，利用设置在所述半导体集成电路装置的内部的测试装置和所述环路反馈通道，在所述半导体集成电路装置内部中试验所述高速输入输出装置的工作。
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