[发明专利]补偿因受试电子器件故障所造成的测试信号恶化

摘要

一种电子器件测试器通道通过一组隔离电阻器向受试电子器件(DUT)的多个端子发送单一测试信号。该测试器通道利用反馈自动调节测试信号电压，以补偿任一DUT端子处的故障影响，从而防止该等故障实质影响此测试信号电压。

主权项

1、一种用于在一集成电路(IC)测试期间同时向IC的多个IC端子发送一测试信号的装置，其中当一控制信号在第一及第二状态之间重复转换时，所述测试信号在表示第一及第二逻辑电平的第一及第二测试信号电压电平之间重复转换，所述装置包括：一电路节点；第一构件，其用于在所述控制信号在所述第一及第二状态之间转换时驱动一处于第一及第二输出信号电压电平之间的输出信号，所述输出信号可阻性耦合于所述电路节点，以在所述电路节点处产生所述测试信号；第二构件，其通过一网络将来自所述电路节点的所述测试信号同时分配给所述多个IC端子，其中所述网络包括使所述IC端子彼此隔离的电阻；及第三构件，其通过调整所述第一及第二输出信号电压电平来响应所述控制信号及所述测试信号，以使当所述控制信号在所述第一及第二状态之间转换时，所述测试信号在所述第一及第二测试信号电压电平之间转换。