[其他]单模光纤双折射测量方法在审
| 申请号： | 101985000000420 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100420B | 公开（公告）日： | 1988-04-13 |
| 发明（设计）人： | 黄上元;林宗琦 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学光纤技术研究所 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 颜承根 |
| 地址： | 上海市法华*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差２φ的绝对值，绘出ｓｉｎ |
||
| 搜索关键词： | 单模 光纤 双折射 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学光纤技术研究所，未经上海交通大学光纤技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/101985000000420/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：灵芝工厂化栽培方法
- 下一篇：恶性肿瘤固有荧光诊断仪
- 同类专利
- 专利分类
