[其他]测量高反射率的方法和装置在审
| 申请号： | 101985000001719 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN1006089B | 公开（公告）日： | 1989-12-13 |
| 发明（设计）人： | 王占青;陈奋飞;周秀良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： |
本发明是在光谱光度计上加对称球面谐振腔多次反射装置而形成的测量镜面高反射率的方法和装置。对称球面谐振腔放在可定位旋转１８０°的转动圆盘上，高反射率是通过公式Ｒ＝（Ｅ |
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| 搜索关键词： | 测量 反射率 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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