[其他]辐照显示薄膜剂量计及其制法在审

专利信息
申请号: 101985000004437 申请日: 1985-06-12
公开(公告)号: CN85104437B 公开(公告)日: 1987-11-25
发明(设计)人: 王艳乔;周小民;唐掌雄;张恭明 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所;中国农业科学院原子能利用研究所;北京市辐射中心
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国科学院化学科研所 代理人: 黄永奎
地址: 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于核辐射技术中剂量的监测,其内容包括一种用于60Coγ-射线辐照剂量监测的薄膜剂量计及其制法∶薄膜计量计是由含氯共聚物和染料隐色体所组成。它对可见光不敏感,对60Coγ-射线具有相当敏感性,其主要成分含有与被照物质等效的C、H、O、N等元素。该薄膜剂量计结构简单、容易制造,可为农、工、医等各领域的现场使用提供一种灵敏、可靠、稳定、直观性强的监测显示手段。剂量监测显示范围为103-107rad。
搜索关键词: 辐照 显示 薄膜 剂量计 及其 制法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院化学研究所;中国农业科学院原子能利用研究所;北京市辐射中心,未经中国科学院化学研究所;中国农业科学院原子能利用研究所;北京市辐射中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/101985000004437/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top