[其他]接触信号测头在审
| 申请号： | 101985000007033 | 申请日： | 1985-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN1005168B | 公开（公告）日： | 1989-09-13 |
| 发明（设计）人： | 福吉稔;古头隆;中村哲夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰制作所 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 李毅;孙蜀宗 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一个接触信号测头，接触探针基座由固定在测头外壳内的支座活动支撑，Ｚ轴活动支撑机构将接触探针安装在接触探针基座上。Ｚ轴支撑机构包括固定在探针基座上下端的膜片，与膜片中部紧固的一根支撑轴，探针固定在支撑轴下端。当接触探针接触工件的外表面时。探针基座和Ｚ轴支撑机构能支撑接触探针相对于测头作三维自由运动。这套载置有一个电接触信号检测器，它包括许多能产生出电接触信号的磁心和检测线圈。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 信号 | ||
【主权项】：
暂无信息
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