[发明专利]一种使用CR电路测试集成电路内部电容的方法有效
| 申请号： | 200310108504.7 | 申请日： | 2003-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN1542457A | 公开（公告）日： | 2004-11-03 |
| 发明（设计）人： | 浜岛明;刘旸 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试（苏州）有限公司上海分公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人： | 陆飞;沈云 |
| 地址： | 200233上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明为一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，分别测试并联待测电容Cx前、后的电压—时间曲线，然后由式Cx＝(Tx－T0)/(R0+R1)计算得电容Cx值。本发明方法测试电路简单，测试精度符合测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 cr 电路 测试 集成电路 内部 电容 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法，其特征在于在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，先测试得未加待测电容Cx时的电压-时间曲线，再测试获得并联待测电容Cx后的电压-时间曲线，并由下式计算获得Cx：Cx＝(Tx-T0)/(R0+R1) (3)这里To＝(R0+R1)·C0 (1)
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