[发明专利]使用导波的非破坏性检查装置及非破坏性检查方法有效
申请号: | 200310123047.9 | 申请日: | 2003-12-23 |
公开(公告)号: | CN1573328A | 公开(公告)日: | 2005-02-02 |
发明(设计)人: | 永岛良昭;小池正浩;松井哲也 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01N29/00 | 分类号: | G01N29/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩惠琴 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种虽利用导波的群速度变化的频带,但可以总括长距离区间进行高灵敏度检查的非破坏性检查方法及装置。给波形生成及解析装置5输入配管的壁厚、材质或者音速、以及应该检查的区域R、和基准波形。根据壁厚和材质计算由基准波形产生的导波被检查区域R的中心位置的缺陷D0反射、被导波收发元件1接收时的波形,通过计算的接收波形按照从接收时间晚的依次发送的顺序生成发送波形。通过导波收发装置3向导波收发元件1施加基于发送波形的信号,使导波8发生。通过导波收发装置3接收来自导波收发元件1的导波8的接收波形。通过A/D转换器4把信号转换为数字信号。波形生成及解析装置5以该数字信号作为检查结果在显示装置上显示。 | ||
搜索关键词: | 使用 导波 破坏性 检查 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用导波的非破坏性检查装置,其特征在于,具备:利用基准波形生成发送波形的波形生成装置;根据所述发送波形在使被检查物内发生导波的发送元件;接收从所述被检查物的检查区域反射的上述导波的反射波的接收元件;解析装置,该解析装置输出根据通过所述接收元件接收的所述反射波的接收波形得到的检查信息;显示所述检查信息的显示装置。
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