[发明专利]像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法

摘要

像素缺陷检测/校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测/校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算块(1－2)，计算邻近像素和缺陷判断像素的色差绝对值、色差和亮度数据；块(1－3)，基于从色差和亮度算出的值而检测各种数据的最大和最小值；色差内插值计算块(1－4)和亮度内插值计算块(1－5)，获得缺陷判断像素的色差内插值和亮度内插值；缺陷判断和内插处理块(1－6)，用于使用多种缺陷检测方法，在各种缺陷检测方法下同时执行缺陷判断像素的缺陷判断，并且如果找到缺陷像素，根据相关缺陷检测方法执行内插处理；和内插值选择块(1－7)，选择被判断为有缺陷的像素的最终输出值。

主权项

1.一种像素缺陷检测和校正设备，在由成像装置拾取的图像数据中检测和校正像素缺陷，其包括：色差和亮度计算装置，计算缺陷检测所需的邻近像素和缺陷判断目标像素的色差的绝对值、色差和亮度数据、以及关于内插值计算目标像素的数据；最大和最小数据值检测装置，基于在色差和亮度计算装置中算出的值而检测各种数据的最大和最小值；色差内插值计算装置，相对于内插值计算目标像素获得缺陷判断目标像素的色差内插值；亮度内插值计算装置，相对于内插值计算目标像素获得缺陷判断目标像素的亮度内插值；缺陷判断和内插处理装置，基于来自所述最大和最小数据值检测装置、来自所述色差内插值计算装置和来自所述亮度内插值计算装置的数据，使用多种缺陷检测方法，相对于每一种缺陷检测方法同时执行缺陷判断目标像素的缺陷判断，并且如果所述像素被判断为有缺陷，则根据缺陷检测方法以内插值替换像素的原始数据，以执行内插处理；以及内插值使用选择装置，选择在所述缺陷判断和内插处理装置中获得的、被判断为有缺陷的像素的最终输出值；其中在成像期间连续地检测和校正像素缺陷，并且通过以最优方式组合多种缺陷检测方法和内插方法来检测和校正图像数据中的像素缺陷。