[发明专利]用于探测半导体电路中的未使用状态的方法和设备有效
| 申请号： | 200380108345.9 | 申请日： | 2003-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN1754101A | 公开（公告）日： | 2006-03-29 |
| 发明（设计）人： | S·C·霍尔默 | 申请（专利权）人： | 恩莫辛美国有限公司 |
| 主分类号： | G01N37/00 | 分类号： | G01N37/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;梁永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种用于探测半导体电路未用状态的未用状态探测电路。当未用状态探测电路没有被永久清零时，一个半导体电路是“未被使用”的。当一个半导体电路第一次加电时，未用状态探测电路将会探测此半导体电路以前没有“被使用过”，并自动激活启动程序或测试程序(或两者都进行)。在此半导体电路被使用过后，未用状态探测电路将提供说明本半导体电路不再是未经使用过的一个指示。未用状态探测电路利用专用非易失性存储器阵列的状态或半导体电路中通用非易失性存储器部分的专用区域的状态来探测此半导体电路是否以前未被使用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 半导体 电路 中的 使用 状态 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一个半导体电路，其中包括：一个用于执行一条或多条指令的处理器；一个存储器；以及一个用于探测所述半导体电路是否未经使用的电路。
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