[发明专利]微光学器件数字分形掩模制作方法无效

专利信息
申请号: 200410017769.0 申请日: 2004-04-16
公开(公告)号: CN1564084A 公开(公告)日: 2005-01-12
发明(设计)人: 吕海宝;漆新民;谌廷政;高益庆;罗武胜;周卫红;朱小进;周鞠宁;罗宁宁 申请(专利权)人: 南昌航空工业学院;中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F1/00
代理公司: 江西省专利事务所 代理人: 张静;张文
地址: 330034江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种微光学器件数字分形掩模制作方法,它是先将一幅高频掩模图形分解成m幅大小相等的低频掩模,然后将这m幅低频掩模叠加,叠加后对应位置的灰度值相加等于原高频掩模对应位置的灰度值,再通过实时掩模技术,将这m幅低频掩模顺序曝光,每幅曝光时间是原掩模曝光时间的1/m,从而恢复出原高频掩模图形。本发明具有如下优点:(1)降低精缩投影透镜低通滤波特性对光刻曝光影响,可使透镜造成的高频损失降低至0.1%以内,较好地改善了灰阶掩模图形的边缘锐度,提高了电寻址空间光调制器制作灰度掩模的光刻分辨力;(2)实时掩模曝光解决了多个分形掩模对准的难题;(3)降低掩模图形制作的难度;(4)易于选取感光材料的线性段曝光。
搜索关键词: 微光 器件 数字 分形掩模 制作方法
【主权项】:
1、一种微光学器件数字分形掩模制作方法,其特征在于:(1)将一幅高频掩模图形分解成m幅大小相等的低频掩模,m为大于等于2的整数;(2)将这m幅低频掩模沿垂直于掩模所在平面的方向对准叠加,叠加后对应位置的灰度值相加等于原高频掩模对应位置的灰度值;(3)通过实时掩模技术,将这m幅低频掩模顺序曝光,每幅曝光时间是原掩模曝光时间的1/m,从而恢复出原高频掩模图形。
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