[发明专利]用于分析暴露测试中涂层的方法和系统无效
| 申请号： | 200410057522.1 | 申请日： | 2004-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN1584547A | 公开（公告）日： | 2005-02-23 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·W·林赛;爱德华·A·施密特;马克·R·舒尔 | 申请（专利权）人： | 罗姆和哈斯公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01N21/84;G01N21/25;G06F19/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国宾*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用于分析多个正在进行暴露测试的涂层的方法和系统。该系统包括数据获取系统和计算机系统。数据获取系统通过各种输入设备获取涂层标识和属性数据，而计算机系统自动接收、存储、分析和显示涂层属性数据。分析结果涉及测试中涂层成分的耐久性，其可以用于预测涂层属性的性能，和开发改良的涂层成分。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 暴露 测试 涂层 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种涂层分析系统，包括：数据获取系统，其适合于客观地获取并以数字形式存储与一系列正在进行暴露测试的涂层成分测试样品有关的识别码和与该系列测试样品有关的涂层属性数据，该测试样品系列是多个测试样品系列中的一个；和计算机系统，其包括计算机、存储设备和存储介质，该存储介质能够被处理电路读取，存储由处理电路执行的指令，用于：从数据获取系统接收数据，该数据包括测试样品识别码和来自一系列测试样品的涂层属性数据；在存储设备的数据库上存储和检索测试样品识别码和涂层属性数据；和分析涂层属性数据并生成表示涂层成分品质的输出。
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