[发明专利]多台变频器老化测试装置及其方法无效
申请号: | 200410084230.7 | 申请日: | 2004-11-17 |
公开(公告)号: | CN1779472A | 公开(公告)日: | 2006-05-31 |
发明(设计)人: | 王会华;纪正达;钱匡;胡新宇 | 申请(专利权)人: | 上海神源电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 薛琦 |
地址: | 201101上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种多台变频器老化测试装置及其方法,包括:可编程控制器,每组包括二台待老化变频器,共有N组,N是大于等于1的正整数;将每组的待老化变频器与可编程控制器相连;还包括由可编程控制器控制的分别是:第一接触器、第三接触器;第二接触器,第二′接触器;第四接触器,第四′接触器;通过上述接触器将待老化变频器与电源和电力回收模组连接;有益效果是:能用于几十甚至上百台变频器同时、独立的完成长时间模拟带载、开关电源和吸收电路的老化,并且能量消耗很小。 | ||
搜索关键词: | 变频器 老化 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多台变频器老化测试装置,其特征在于:包括:可编程控制器,每组包括二台待老化变频器,分别是:第一待老化变频器和第二待老化变频器;共有N组,N是大于等于1的正整数;将每组的待老化变频器与可编程控制器相连:包括启动按钮、停止按钮、故障信号、第一待老化变频器和第二待老化变频器的启动信号以及指示灯;还包括由可编程控制器控制的分别是:连接电源和第一待老化变频器的第一接触器;连接电源和第二待老化变频器的第三接触器;连接第一待老化变频器和电力回收模组中三相交流的第二接触器,连接第一待老化变频器和电力回收模组中直流的第二′接触器;连接第二待老化变频器和电力回收模组中三相交流的第四接触器,连接第二待老化变频器和电力回收模组中直流的第四接触器;所述的电力回收模组的故障和工作信号与可编程控制器相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海神源电气有限公司,未经上海神源电气有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410084230.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:控制盒的导线固定结构
- 下一篇:重放位流的处理