[发明专利]多台变频器老化测试装置及其方法无效

专利信息
申请号: 200410084230.7 申请日: 2004-11-17
公开(公告)号: CN1779472A 公开(公告)日: 2006-05-31
发明(设计)人: 王会华;纪正达;钱匡;胡新宇 申请(专利权)人: 上海神源电气有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛琦
地址: 201101上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种多台变频器老化测试装置及其方法,包括:可编程控制器,每组包括二台待老化变频器,共有N组,N是大于等于1的正整数;将每组的待老化变频器与可编程控制器相连;还包括由可编程控制器控制的分别是:第一接触器、第三接触器;第二接触器,第二′接触器;第四接触器,第四′接触器;通过上述接触器将待老化变频器与电源和电力回收模组连接;有益效果是:能用于几十甚至上百台变频器同时、独立的完成长时间模拟带载、开关电源和吸收电路的老化,并且能量消耗很小。
搜索关键词: 变频器 老化 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
1.一种多台变频器老化测试装置,其特征在于:包括:可编程控制器,每组包括二台待老化变频器,分别是:第一待老化变频器和第二待老化变频器;共有N组,N是大于等于1的正整数;将每组的待老化变频器与可编程控制器相连:包括启动按钮、停止按钮、故障信号、第一待老化变频器和第二待老化变频器的启动信号以及指示灯;还包括由可编程控制器控制的分别是:连接电源和第一待老化变频器的第一接触器;连接电源和第二待老化变频器的第三接触器;连接第一待老化变频器和电力回收模组中三相交流的第二接触器,连接第一待老化变频器和电力回收模组中直流的第二′接触器;连接第二待老化变频器和电力回收模组中三相交流的第四接触器,连接第二待老化变频器和电力回收模组中直流的第四接触器;所述的电力回收模组的故障和工作信号与可编程控制器相连接。
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