[发明专利]纳米压印与光学光刻混合制作T型栅的方法无效
申请号: | 200410098992.2 | 申请日: | 2004-12-23 |
公开(公告)号: | CN1797200A | 公开(公告)日: | 2006-07-05 |
发明(设计)人: | 谢常青;范东升;刘明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;B41M5/03;H01L21/027 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明纳米压印与光学光刻混合制作T型栅的方法,属于微电子技术中的纳米、深亚微米加工领域。一种纳米压印与光学光刻混合制作T型栅的方法,其工艺步骤如下:1.在半导体基片上涂上底层压印胶;2.用纳米压印方法压印出底层压印胶图形,获得底层栅槽图形;3.涂上顶层光学光刻胶;4.光学光刻方法曝光出顶层光学光刻胶图形;5.显影顶层光学光刻胶获得宽栅槽图形;6.氧等离子体灰化底层残余压印胶;7.蒸发、剥离栅金属,完成T型栅制作。本发明方法可以获得深亚微米、纳米T型栅结构,适合用于大规模生产。 | ||
搜索关键词: | 纳米 压印 光学 光刻 混合 制作 方法 | ||
【主权项】:
1、一种纳米压印与光学光刻混合制作T型栅的方法,其特征在于,其T型栅图形的形成是由纳米压印方法印出底层纳米压印胶图形,获得根部栅图形,然后涂上顶层光学光刻胶,用光学光刻方法曝光顶层光学光刻胶,显影顶层光学光刻胶获得宽栅图形,然后蒸发、剥离栅金属而获得T型栅。
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