[发明专利]低电压NMOS基静电放电箝位电路有效

专利信息
申请号: 200480003835.7 申请日: 2004-02-04
公开(公告)号: CN1748309A 公开(公告)日: 2006-03-15
发明(设计)人: 迈克尔·贝尔德;理查德·T·艾达;詹姆斯·D·怀特菲尔德;许洪忠;索潘·乔施 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: H01L23/62 分类号: H01L23/62
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 张浩
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明揭示了用于低压静电放电箝位电路的系统和方法。结合p型阱和电阻的晶体管(201)可以被用作低压ESD箝位电路,其中晶体管(201)的主体(202)通过电阻器(206)耦合到源极(204),从而降低了DC泄漏电流并在使晶体管(201)的闩锁效应最小的同时保持有效的ESD性能。
搜索关键词: 电压 nmos 静电 放电 箝位 电路
【主权项】:
1、一种p型阱和电阻相连的晶体管,包括:衬底;所述衬底中的隔离结构;邻近所述隔离结构的隔离层;邻近所述隔离层和隔离结构的阱;所述阱中的第一掺杂区;邻近所述第一掺杂区并形成主体的第一导电端子;所述阱中的第二掺杂区;邻近所述第二掺杂区并形成源极的第二导电端子;邻近所述阱的电介质层;邻近所述电介质层的、形成栅极的第三导电端子;所述阱中的第三掺杂区;邻近所述第三掺杂区并形成漏极的第四导电端子;和耦合在第一导电端子和第二导电端子之间的电阻元件。
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