[发明专利]溅射靶、光信息记录介质用薄膜及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200480005976.2 申请日: 2004-02-03
公开(公告)号: CN1756857A 公开(公告)日: 2006-04-05
发明(设计)人: 细野秀雄;植田和茂;矢作政隆;高见英生 申请(专利权)人: 株式会社日矿材料
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;G11B7/24;G11B7/26
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 陆锦华;樊卫民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种溅射靶,其特征在于,含有以满足下式的氧化锌为主要成分的化合物:A、B分别为不相同的3价及以上的阳性元素,其价数分别为Ka、Kb时,AXBYO(KaX+KbY)/2(ZnO)m,1<m,X≤m,0<Y≤0.9,X+Y=2,且相对密度为80%及以上。它是不含ZnS和SiO2的ZnO基体的溅射靶,能在通过溅射而形成膜时,减小对基板加热等的影响,高速成膜,能把膜厚调整得薄,还能减少溅射时产生的粒子(発塵)及球状夹杂物,减小质量的偏差,提高量产性,且结晶粒微小,能获得具有80%以上,特别是90%以上的高密度的溅射靶。
搜索关键词: 溅射 信息 记录 介质 薄膜 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种溅射靶,其特征在于,含有以满足下式的氧化锌为主要成分的化合物:A、B分别为不相同的3价及以上的阳性元素,其价数分别为Ka、Kb时,AXBYO(KaX+KbY)/2(ZnO)m,1<m,X≤m,0<Y≤0.9,X+Y=2,且相对密度为80%及以上。
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