[发明专利]用于测试光盘耐用性的装置和方法有效
| 申请号： | 200480007427.9 | 申请日： | 2004-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1761866B | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 金真弘;徐勋;李昌镐;郑台熙;郭锦哲;李承远 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N3/46 | 分类号： | G01N3/46 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 夏凯;谢丽娜 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 光盘 耐用性 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定光盘是否是有缺陷的装置，其包括：旋转盘，其配置成旋转光盘；划痕单元，其配置成在由旋转盘旋转的光盘的表面上产生划痕；和框架，其在划痕单元上提供由框架自己的重量所引起的压力或者由蒸气所引起的压力，并且导致划痕单元接触光盘，以便在光盘的表面上产生划痕；其中，该划痕单元包括配置成在光盘的表面上产生划痕的划痕器，和配置成固定划痕器的保持器。
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