[发明专利]用于自动检测集成电路锁存器中的软错误的系统和方法无效
| 申请号： | 200480035715.5 | 申请日： | 2004-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN1890879A | 公开（公告）日： | 2007-01-03 |
| 发明（设计）人： | R·施奈德尔 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份公司 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003;G06F11/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 顾珊;魏军 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 用于检测锁存器中产生的软错误的电路和方法。电路的示例性实施例包括级联的锁存器模块，每个锁存器具有比较器，并且最后的锁存器比较器的输出代表该锁存器模块的奇偶校验位。该电路进一步包括用于存储组奇偶校验位的锁存元件和用于组奇偶校验位和存储的奇偶校验位的比较器。锁存器软错误通过监控来自奇偶校验位比较器的输出来检测，其当锁存器模块奇偶校验位改变状态时发信号表示错误。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 自动检测 集成电路 锁存器 中的 错误 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种锁存器模块，包括：(a)多个级联的锁存单元，每个锁存单元包括锁存器和比较器；(b)奇偶校验位锁存器，其与该多个级联的锁存单元的最后一个的比较器连接；和(c)奇偶校验位比较器，其与奇偶校验位锁存器和该多个锁存单元的最后一个的比较器进行通信。
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