[发明专利]实速扫描测试的电路和方法

摘要

一种集成电路具有N个以不同的施加频率运行的时钟域。提供一种时钟方案，以即使施加频率彼此不是成倍的，也能够对两个时钟域之间的信号通道进行测试。提供一种方法，用于对具有多个时钟域的集成电路进行结构时延测试。

主权项

1.一种方法，用于对集成电路进行测试，以对由从集成电路的第一模块到集成电路的第二模块的信号通道引起的时延故障进行检测，该第一和第二模块以不同的施加速度运行，所述方法包括以下步骤：a)以参考频率将数据移位到扫描存储单元中，b)以启动测试频率对第一模块施加启动测试时钟脉冲，c)以捕获测试频率对第二模块施加捕获测试时钟脉冲，由此启动测试频率与捕获测试频率相同，启动脉冲和捕获脉冲的第一边沿彼此延迟一周期，该周期是启动测试频率的倒数，并且由此根据从第一模块到第二模块的信号通道的施加速度要求指定启动测试频率，d)以参考频率将数据从扫描存储单元移位到输出端，e)将输出端的值与期望值进行比较。