[发明专利]利用光学干涉图样的自动检验系统和方法无效
| 申请号： | 200510073961.6 | 申请日： | 2000-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN1728184A | 公开（公告）日： | 2006-02-01 |
| 发明（设计）人： | 保罗·G·库姆斯;唐纳德·M·弗里德里克;肯·D·卡德尔;柯蒂斯·R·鲁斯卡;查尔斯·T·马尔坎特斯 | 申请（专利权）人： | JDS单相公司 |
| 主分类号： | G07D7/12 | 分类号： | G07D7/12;G07D7/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 田军锋;车文 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种自动检验系统，用于鉴别具有光学防伪特征的物体，包括光学系统、传送台设备和分析设备。光学系统包括一个或多个光源，能够产生窄带或宽带光束。传送台设备与光源配合操作，被构成为将物体定位而使得一个或多个光束照射在物体应当设有防伪特征的部分。分析设备接收从物体反射或透射的光束，并用于分析在不同角度和/或波长的光束的光学特征，以检验物体的真实性。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 光学 干涉 图样 自动 检验 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检验物体真实性的系统，包括：(a)至少一个光源，被构成为将入射光束朝着要被鉴别的物体引导；(b)分析设备，包括多个光学检测器，用于分析从物体以不同的反射角反射的光束的光学特征，从而检验物体的真实性；其中该至少一个光源和多个光学检测器在阵列中彼此靠近。
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