[发明专利]集成电路测试装置无效
| 申请号： | 200510106799.3 | 申请日： | 2005-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN1760689A | 公开（公告）日： | 2006-04-19 |
| 发明（设计）人： | 横须贺拓也 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于实现一种可以缩短测试时间的集成电路测试装置，且改进了对输出多梯级电压的被测试对象进行测试的集成电路测试装置。本装置包含：A/D转换器(模拟/数字转换器)，输入被测试对象的输出；存储器，储存该A/D转换器。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试装置，其对输出多段阶电压的被测试对象进行测试，并包含：A/D转换器，输入该被测试对象的输出；存储器，储存该A/D转换器的输出；数字比较器，对该A/D转换器的输出与比较电压数据进行比较。
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