[发明专利]干涉条纹自动对焦与自动检测方法有效

专利信息
申请号: 200510137455.9 申请日: 2005-12-30
公开(公告)号: CN1991341A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 陈金亮;高清芬;张中柱 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/45
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 胡光星
地址: 台湾省新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种干涉条纹自动对焦与自动检测方法,适用于光学干涉系统,包括:撷取多个干涉图像。每一该干涉图像是由多个像素所构成,每一上述这些像素有对应的像素强度。记录每一上述这些干涉图像的位置,清晰度与对比度。该清晰度与该对比度是根据清晰度计算与对比度计算获得。分析上述这些干涉图像的上述这些清晰度,获得与上述这些干涉图像位置相对应的清晰度分布曲线,以得出一最佳清晰度位置,作为该光学干涉系统的聚焦位置。分析上述这些干涉图像的上述这些对比度,获得对比度分布曲线。决定干涉扫描范围,其中该对比度分布曲线被独立分析,或是该对比度分布曲线与该清晰度分布曲线被混合分析,以决定该干涉扫描范围。
搜索关键词: 干涉 条纹 自动 对焦 自动检测 方法
【主权项】:
1.一种干涉条纹自动对焦与自动检测方法,适用于光学干涉系统,其特征是包括:撷取多个干涉图像,其中每一该干涉图像是由多个像素所构成,每一上述这些像素有对应的像素强度;记录每一上述这些干涉图像的位置,清晰度与对比度,其中该清晰度与该对比度是根据清晰度计算与对比度计算获得;分析上述这些干涉图像的上述这些清晰度,获得清晰度分布曲线,以得出最佳清晰度位置,作为该光学干涉系统的聚焦位置;分析上述这些干涉图像的上述这些对比度,获得对比度分布曲线;以及决定干涉扫描范围,其中该对比度分布曲线被独立分析,或是该对比度分布曲线与该清晰度分布曲线被混合分析,以决定该干涉扫描范围。
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