[发明专利]干涉条纹自动对焦与自动检测方法有效
申请号: | 200510137455.9 | 申请日: | 2005-12-30 |
公开(公告)号: | CN1991341A | 公开(公告)日: | 2007-07-04 |
发明(设计)人: | 陈金亮;高清芬;张中柱 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/45 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人: | 胡光星 |
地址: | 台湾省新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种干涉条纹自动对焦与自动检测方法,适用于光学干涉系统,包括:撷取多个干涉图像。每一该干涉图像是由多个像素所构成,每一上述这些像素有对应的像素强度。记录每一上述这些干涉图像的位置,清晰度与对比度。该清晰度与该对比度是根据清晰度计算与对比度计算获得。分析上述这些干涉图像的上述这些清晰度,获得与上述这些干涉图像位置相对应的清晰度分布曲线,以得出一最佳清晰度位置,作为该光学干涉系统的聚焦位置。分析上述这些干涉图像的上述这些对比度,获得对比度分布曲线。决定干涉扫描范围,其中该对比度分布曲线被独立分析,或是该对比度分布曲线与该清晰度分布曲线被混合分析,以决定该干涉扫描范围。 | ||
搜索关键词: | 干涉 条纹 自动 对焦 自动检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种干涉条纹自动对焦与自动检测方法,适用于光学干涉系统,其特征是包括:撷取多个干涉图像,其中每一该干涉图像是由多个像素所构成,每一上述这些像素有对应的像素强度;记录每一上述这些干涉图像的位置,清晰度与对比度,其中该清晰度与该对比度是根据清晰度计算与对比度计算获得;分析上述这些干涉图像的上述这些清晰度,获得清晰度分布曲线,以得出最佳清晰度位置,作为该光学干涉系统的聚焦位置;分析上述这些干涉图像的上述这些对比度,获得对比度分布曲线;以及决定干涉扫描范围,其中该对比度分布曲线被独立分析,或是该对比度分布曲线与该清晰度分布曲线被混合分析,以决定该干涉扫描范围。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院,未经财团法人工业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510137455.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:进行试验为多项式的统计测试的方法
- 下一篇:抛光工艺的控制方法