[发明专利]光电子测定装置无效
| 申请号： | 200580007752.X | 申请日： | 2005-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN1930468A | 公开（公告）日： | 2007-03-14 |
| 发明（设计）人： | 中岛嘉之;山下大辅 | 申请（专利权）人： | 理研计器株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/227 | 分类号： | G01N23/227 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;刘宗杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供大气中可处理试样的光电子测定装置。从紫外线发生装置1向试样S照射波长变化的紫外线，检测试样S开始放出光电子的波长的光电子测定装置中，使到出射口2为止为无氧环境，同时试样台4配置成令出射口2和试样S的表面的距离为7mm以下。 | ||
| 搜索关键词： | 光电子 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光电子测定装置，用来自紫外线发生源的紫外线照射大气中配置的试样，检测从上述试样放出的光电子。
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