[发明专利]多介质FINFET结构和方法有效

专利信息
申请号: 200580008478.8 申请日: 2005-03-18
公开(公告)号: CN101421850A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: W·F·小克拉克;E·J·诺瓦克 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/78;H01L27/088;H01L27/12;H01L21/336;H01L21/8234;H01L21/84
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于 静;刘瑞东
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了用于鳍片型场效应晶体管(FinFET)结构的方法和结构,所述FinFET结构具有覆盖从衬底(110)延伸的鳍片(112,113,114)的不同厚度的栅极介质(502,504)。这些鳍片具有中心沟道区,以及在沟道区的相反侧的源极(60)和漏极(62)区。较厚的栅极介质(504)可以包括多个介质层(200,500),而较薄的栅极介质(502)可以包括较少介质层(200)。在鳍片上可以设置包括与栅极介质不同的材料的覆层(116)。
搜索关键词: 介质 finfet 结构 方法
【主权项】:
1. 一种鳍片型场效应晶体管(FinFET)结构,包括:衬底;鳍片,从所述衬底延伸;以及栅极介质,覆盖所述鳍片,其中所述栅极介质具有不同的厚度。
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