[发明专利]支持开放架构测试系统中的校准和诊断无效
| 申请号： | 200580016355.9 | 申请日： | 2005-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN1981203A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 足立敏明;安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨生平;杨红梅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括：创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别，以及创建用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口的校准和诊断(C&D)框架，其中所述C&D框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类。该方法还包括接收厂商供给的测试模块；根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息；以及使用所述C&D框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。 | ||
| 搜索关键词： | 支持 开放 架构 测试 系统 中的 校准 诊断 | ||
【主权项】：
1.一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括：创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别；创建校准和诊断(C&D)框架，其用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口，其中所述C&D框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类；接收厂商供给的测试模块；根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息；以及使用所述C&D框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。
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