[发明专利]具有散射辐射校正的X射线探测器有效

专利信息
申请号: 200580021181.5 申请日: 2005-06-24
公开(公告)号: CN1973213A 公开(公告)日: 2007-05-30
发明(设计)人: B·施维瑟;G·沃格特梅尔;K·J·恩格尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李亚非;王勇
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及X射线装置、X射线探测器和校正强度信号的方法。一种X射线探测器于是包括:用于确定X射线的强度(其包括具有辐照方向的原辐射部分和散射辐射部分)的至少第一传感器元件和第二传感器元件,它们均被提供以用于将X射线转换成第一和第二强度信号;以及滤波元件,其被提供以用于减小在X射线强度中散射辐射的比例,其中第二传感器元件沿辐照方向被布置在滤波元件后面,以及其中固定到滤波元件上的第一传感器元件被提供以用于确定离开滤波元件之前X射线的强度。从第一和第二传感器元件的测量数据计算的散射辐射的比例被提供以用于校正用于后续图像生成的第二强度信号。
搜索关键词: 具有 散射 辐射 校正 射线 探测器
【主权项】:
1.一种用于确定X射线的强度的X射线探测器,所述强度具有原辐射部分和散射辐射部分,所述原辐射部分具有辐照方向,所述X射线探测器包括-滤波元件,其被提供以用于减小在X射线强度中散射辐射的比例,-固定到滤波元件上的至少第一传感器元件,用于在X射线从滤波元件出现之前将X射线转换成第一强度信号,以及-第二传感器元件,其被提供以用于将X射线转换成第二强度信号并沿辐照方向被布置在滤波元件后面。
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