[发明专利]制造化学机械平面化(CMP)垫中的原位凹槽的方法以及新颖的CMP垫设计有效

专利信息
申请号: 200580024127.6 申请日: 2005-07-15
公开(公告)号: CN101014446A 公开(公告)日: 2007-08-08
发明(设计)人: M·德奥普拉;H·M·瓦伊迪亚;P·K·罗伊 申请(专利权)人: 尼欧派德技术公司
主分类号: B24D18/00 分类号: B24D18/00;B29C33/40;B24D13/14;B29C33/56;B24B37/04;B29C41/02;B29C33/42
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供制造CMP垫中的原位凹槽的方法。一般地说,制造原位凹槽的方法包括以下步骤:构图硅树脂衬层(206);将所述硅树脂衬层(206)设置在模具(200)中或模具(200)上;将所述CMP垫材料添加到所述硅树脂衬层(206);以及使所述CMP垫固化。还描述了包括新颖凹槽设计的CMP垫。例如,在此描述的是包括同心圆凹槽和轴向弯曲凹槽、反向对数凹槽、重叠圆凹槽、利萨如凹槽、双螺旋凹槽以及多重重叠轴向弯曲凹槽的CMP垫。所述CMP垫可以由聚氨酯制成,并且在其中制造的凹槽可由选自硅树脂加衬、激光直写、水射流切割、3-D印刷(printing)、热压成形、真空成形、微接触印刷、热压印及其混合中的方法制造。
搜索关键词: 制造 化学 机械 平面化 cmp 中的 原位 凹槽 方法 以及 新颖 设计
【主权项】:
1.一种制造CMP垫中的原位凹槽的方法,包括以下步骤:构图硅树脂衬层;将所述硅树脂衬层设置在模具中或模具上;将CMP垫材料添加到所述硅树脂衬层;使所述CMP垫固化。
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