[发明专利]内阻抗检测设备、内阻抗检测方法、退化程度检测设备和退化程度检测方法有效

专利信息
申请号: 200580028606.5 申请日: 2005-06-23
公开(公告)号: CN101010596A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 石井光德 申请(专利权)人: 日本电气株式会社;富士重工业株式会社
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提出了一种用于以高准确度来检测二次电池的内阻抗的内阻抗检测设备。处理器(106)将由电压变化检测器(103)所检测的每一个电压的变化除以在与电压变化相同的检测时间内由电流变化检测器所检测的电流变化来计算内阻抗。判断单元(107)检查由处理器(106)所计算的内阻抗的变化,并且基于检查结果来判断内阻抗是否具有可靠性。只有当判断单元(107)判断内阻抗具有可靠性时,生成器(109)才根据该内阻抗生成要输出的内阻抗。
搜索关键词: 阻抗 检测 设备 方法 退化 程度
【主权项】:
1.一种用于检测二次电池的内阻抗的内阻抗检测设备,包括:电压检测器,用于检测所述二次电池的电压;电压变化检测器,用于基于由所述电压检测器所检测的电压,来检测在具有各个不同持续时间并且包括共用时间的多个检测时间的每一个中的电压变化;电流检测器,用于检测流经所述二次电池的电流;电流变化检测器,用于基于由所述电流检测器所检测的电流,来检测在所述检测时间的每一个内的电流变化;处理器,用于通过将由所述电压变化检测器所检测的电压变化除以在与电压变化相同的检测时间由所述电流变化检测器所检测的电流变化,来计算多个内阻抗;判断单元,用于基于由所述处理器所计算的内阻抗的变化来判断该内阻抗可靠与否;以及生成器,用于只有在所述判断单元判断所述内阻抗为可靠时,基于该内阻抗来生成要输出的内阻抗。
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