[发明专利]观察纳米级样品的光学部件、包含该部件的系统、使用该部件的分析方法及其应用无效
| 申请号： | 200580029959.7 | 申请日： | 2005-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN101031789A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 多米尼克·奥塞尔 | 申请（专利权）人： | 孔布雷电子公司－SELCO |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 于辉 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及用于观察样品的光学部件，其包括基底和至少一层预定厚度的复合折射率层，该层经设计以使得当在偏振消光条件下通过在法向入射周围会聚的非相干光反射来观察它时，对光路变化、起伏、纳米级厚度和直径表现出高的强度或色彩反差。本发明的特征在于上折射率层具有特定表面性质，使之对样品的至少一个特征提供选择性亲和力。本发明还涉及包括所述部件的分析系统、使用所述部件的分析方法以及所述方法的用途。 | ||
| 搜索关键词： | 观察 纳米 样品 光学 部件 包含 系统 使用 分析 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
1.用于观察样品的光学部件，其包括基底和至少一层预定厚度的复合折射率层，该层经设计以使得当在偏振消光条件下通过在法向入射周围会聚的非相干光反射来观察它时，对光路变化、起伏(reliefs)、纳米级厚度和直径表现出高的强度或色彩反差，其特征在于上折射率层具有特定表面性质，使之对样品的至少一个特征提供选择性亲和力(affinity)。
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