[发明专利]低温SiN沉积方法无效

专利信息
申请号: 200580039394.0 申请日: 2005-08-15
公开(公告)号: CN101061255A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: 阿吉特·P·帕仁吉佩;康展·张;布伦登·麦克杜格尔;韦恩·维雷布;米歇尔·巴顿;艾伦·戈德曼;萨默纳斯·内奇 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/44;H01L21/00;H01L21/318;C23C16/455
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 徐金国;陈红
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了通过将含硅前驱物导入处理区中,排出处理区中包括含硅前驱物的气体,同时均匀逐渐降低处理区的压力,将含氮前驱物导入处理区中,并排出处理区中包括含氮前驱物的气体,同时均匀逐渐降低处理区的压力,在处理区内的衬底上沉积硅氮化物层。在排气步骤期间,压力降低相对于时间的斜率基本为常数。
搜索关键词: 低温 sin 沉积 方法
【主权项】:
1.一种用于在处理区内的衬底上沉积包含硅和氮的层的方法,包括:将含硅前驱物导入到所述处理区中;排出所述处理区中包括所述含硅前驱物的气体,同时均匀地逐渐降低所述处理区的压力;将含氮前驱物导入到所述处理区中;以及排出所述处理区中包括所述含氮前驱物的气体,同时均匀逐渐降低所述处理区的压力。
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