[发明专利]用于测量涂膜的粗糙度的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200580042756.1 申请日: 2005-12-13
公开(公告)号: CN101076833A 公开(公告)日: 2007-11-21
发明(设计)人: S·L·恩乔 申请(专利权)人: 阿克佐诺贝尔国际涂料股份有限公司
主分类号: G06T7/40 分类号: G06T7/40;G01J3/51;G01J3/46
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;于静
地址: 荷兰*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种用于通过测量装置分析包含效应颜料的涂膜的视觉粗糙度的方法,该测量装置包含具有反射内壁和样品开口的腔,该装置还包括:照明装置,用于照明所述腔;和数字成像装置,其从所述腔朝向所述样品开口,并且布置在离所述样品开口的中心法线的一定距离处,该方法包括以下步骤:通过所述样品开口将所述涂膜的样品置于所述腔中;照明所述腔;启动所述成像装置,以记录所述样品的图像;将所述记录的图像数据传输到编程有图像分析软件程序的计算机,以分析所记录的图像。所述成像装置的光轴设定成与所述样品开口的中心法线成3至12度的角度。
搜索关键词: 用于 测量 粗糙 方法 装置
【主权项】:
1.一种用于通过测量装置分析包含效应颜料的涂膜的视觉粗糙度的方法,该测量装置包含具有反射内壁和样品开口的腔,所述装置还包括:照明装置,用于照明所述腔;和数字成像装置,其从所述腔朝向所述样品开口、并且被设置为离所述样品开口的中心法线有一个距离,其中,启动所述成像装置,以记录经所述样品开口提供的涂膜的样品的数字图像文件,该图像文件包括每个像素的反射数据,其特征在于,将所述数字图像传输到编程的数据处理单元,以基于所述每个像素的反射数据之间的差计算粗糙度值。
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