[发明专利]用于光学信号的过渡偏移定时

摘要

本发明公开了一种确定来自光学记录介质的所测量的光学信号中的过渡偏移定时的方法，以及所述方法与对于光学记录介质优化写入策略和分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：提供所测量的光学信号的值；提供对应于所测量的光学信号的调制比特；通过光学通道模型计算模型信号；以及从数学模型确定所述前沿和后沿的输出定时。该方法是一种递归方法，其一直继续到满足预定标准为止。最后的输出是如其在所述光学记录介质上的所测量的CA信号的通道比特的平均过渡偏移。所述方法的应用包括(但不限于)：用于确定所述平均过渡偏移的模块，具有用于根据所述平均过渡偏移来调节所述写入策略的装置的光学记录设备，以及用于控制光学记录设备的IC。

主权项

1、一种确定来自光学记录介质(11)的所测量的光学信号中的一系列通道比特(30)中的过渡偏移(37)的定时的方法，该光学信号包括从具有第一宽度(311)的第一区域(22)反射的第一部分(28，31)以及从具有第二宽度(321)的第二区域(23)反射的第二部分(27，32)，其中，从第一区域到第二区域的过渡被标记为由第一和第二宽度索引的前沿(33)，并且从第二区域到第一区域的过渡被标记为由第二和第一宽度索引的后沿(34)，该方法包括以下步骤：a)以中心孔径信号(CA信号)的形式提供所测量的光学信号的值；b)提供对应于所测量的光学信号的调制比特；c)通过光学通道模型计算模型信号，所计算的模型包括所述前沿和后沿的输入定时，所述输入定时是一系列输入过渡偏移；d)从考虑到所测量的光学信号、所述调制比特和所计算的模型信号的数学模型确定所述前沿和后沿的输出定时，所述输出定时是一系列输出过渡偏移，其中，在评估步骤中使用的输入定时是在前一个评估步骤中确定的输出定时，并且所述模型与所测量的信号之间的差异与所述输入定时一起被用来计算后续的输出定时；以及e)继续所述评估序列，直到在特定评估步骤中获得的一系列输出过渡偏移满足预定标准，其中，最后获得的一系列输出过渡偏移是所测量的CA信号的通道比特的平均过渡偏移(500，501)。