[发明专利]用于鉴别和修复填塞蜂窝结构体中缺陷孔的方法和系统有效
| 申请号： | 200580043941.2 | 申请日： | 2005-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN101184545A | 公开（公告）日： | 2008-05-21 |
| 发明（设计）人： | L·R·佐勒三世 | 申请（专利权）人： | 康宁股份有限公司 |
| 主分类号： | B01D46/00 | 分类号： | B01D46/00;F01N3/022 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沙永生 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检测填塞蜂窝结构体中缺陷孔的方法和系统，包括形成一片横跨蜂窝结构体第一端面的具有第一色的光；在相应于蜂窝结构体中含有缺陷的孔的位置处产生该片光的第一反射信号；用第二色的入射光束照射第一端面，产生该入射光束的第二反射信号；和拍摄第一和第二反射信号的图象。检测后，不用移动该填塞蜂窝结构体的位置就可标记或修复有缺陷的孔。也描述了标记或修复缺陷孔的设备和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 鉴别 修复 填塞 蜂窝 结构 缺陷 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.填塞蜂窝结构体的制备方法，它包括如下步骤：把填塞蜂窝结构体放置在固定器中，对填塞蜂窝结构体中缺陷孔进行成像，产生填塞蜂窝结构体中缺陷孔的位置坐标，移动到该位置坐标，和标记或修复所述的缺陷孔而无需从固定器中重新移动填塞蜂窝结构体。
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